SURFACE DYNAMICS GROUP


Nils Hartmann

Nils Hartmann

Ausstattung

Die Ausstattung umfasst verschiedene cw-Lasersysteme und ein Kurzpulslasersystem zur Materialbearbeitung. Des Weiteren steht eine Glovebox und eine Niederdruck-Plasmakammer zur Verfügung. Zur Charakterisierung werden verschiedene Mikroskopietechniken, wie die Rasterkraftmikroskopie (engl., AFM), die Rasterelektronenmikroskopie (engl., SEM), die Raster-Augerelektronen-Mikroskopie (engl., SAES, SAM) und verschiedene optische Mikroskopieverfahren genutzt. Ergänzend kommen ellipsometrische Untersuchungen, Untersuchungen mittels IR-Spektroskopie und Kontaktwinkelmessungen hinzu.

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